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試用資料庫:M-Trends專利檢索暨分析管理平台資訊  

 

資料庫簡介:

   M-Trends 設計與各國網站一致性之專利檢索介面,可整合查詢USPTO Issued、USPTO Appl.、TW-TWPAT、SIPO、EPO、WIPO-PCT、KIPO-KPA等全球主要專利資料庫,提供專利全文影像下載,並提供下列分析功能:

1. 專利數分析-提供技術發展趨勢、技術生命週期現況以及預測技術未來的興衰等重要資訊。

2. 公司別分析-深入探討競爭公司對指定技術的投資情況、研發能力比較等有價資訊,作為企業研擬相關市場攻防策略時的重要依據。

3. 審查委員分析-針對技術領域內之審查委員進行詳細分析,俾利分析者了解技術審查官之動態與趨勢。

4. IPC分析-透過國際性的技術分類,進行各類技術研發趨勢與動向的探勘,再藉由與國家以及公司等交互分析,顯露出各國或各競爭公司間的投資重點。

5. 國家別分析-觀察技術領域內重要競爭國家、戰火的主戰地區以及該等國專利技術實力的比較等,作為申請專利時選擇國家的參考或引進外來技術時的重要指標之一。

6. 發明人分析-針對技術領域內發明人進行深入分析以及完整紀錄發明人之歷年發明專利的情況。

7. 引證率分析-解析重要/基礎專利,利用族譜圖概念,分解重要/基礎專利被引用的情況,以及充分揭露該專利之詳細資訊,幫助使用者監控專利重要訊息。

8. UPC分析-透過美國技術分類,更深入對各國家技術進行探勘,以進一步掌握技術以及預測技術。
 
試用日期:即日起至民國99年5月15日止

使用方式:

1. 請從本館網頁點選「資料庫」「試用資料庫」點選欲查詢的資料庫名稱。

2. 使用時請務必遵守出版社使用規範及版權聲明,以免觸法,並影響全校讀者之使用權益。

歡迎全校師生上網試用,對試用資料庫如有任何問題與建議,請填寫試用資料庫意見調查表,或洽詢圖書館閱覽組 Tel: 02-33662326Email: tul@ntu.edu.tw,以利本館了解您的需求與意見。

發佈日期:99.04.14

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